王向晖 + 关注学者
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1. Comparison of the microstructure of titanium oxide films deposited on silicon and LTI-carbon 代表性成果 SCIE

作者:Wang, XH; Zhang, F; Li, CR; Zheng, ZH; Liu, XH

通讯作者地址:Wang, XH (reprint author), Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Met, Ion Beam Lab, 865 Changning Rd, Shanghai 200050, Peoples R China.

作者机构:[Wang, XH; Zhang, F; Li, CR; Zheng, ZH; Liu, XH]Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Met, Ion Beam Lab, Shanghai 200050, Peoples R China.

来源:SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY,2001,137,1,6-11

收录类别:SCIE

当年影响因子:2.589

WOS被引:2

资源类型:外文期刊论文

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