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7. Spectroscopic ellipsometry investigations of PLT ferroelectric thin films with various La concentrations in the mid-infrared spectral region 代表性成果 SCIE

作者:Hu, ZG; Shi, FW; Huang, ZM; Wu, YN; Wang, GS; Chu, JH

通讯作者地址:Hu, ZG (reprint author), Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Tech Phys, Natl Lab Infrared Phys, 500 Yu Tian Rd, Shanghai 200083, Peoples R China.

作者机构:[Hu, ZG; Shi, FW; Huang, ZM; Wu, YN; Wang, GS; Chu, JH]Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Tech Phys, Natl Lab Infrared Phys, Shanghai 200083, P 更多

来源:APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING,2005,80,4,841-846

收录类别:SCIE

当年影响因子:1.455

WOS被引:2

资源类型:外文期刊论文

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