标题:Elemental intermixing within an ultrathin SrRuO3 electrode layer in epitaxial heterostructure BaTiO3/SrRuO3/SrTiO3
作者:Zhang, HB[1];Qi, RJ[1];Ding, NF[1];Huang, R[1,2,3];Sun, L[1];Duan, CG[1,3];Fisher, CAJ[2];Chu, JH[1,3]
作者全称:Zhang, H. B.[1];Qi, R. J.[1];Ding, N. F.[1];Huang, R.[1,2,3];Sun, L.[1];Duan, C. G.[1,3];Fisher, Craig A. J.[2];Chu, J. H.[1,3]
通讯作者:Huang, R.(rhuang@ee.ecnu.edu.cn)
通讯作者地址:Huang, R; Duan, CG (reprint author), E China Normal Univ, Minist Educ, Key Lab Polar Mat & Devices, Shanghai 200062, Peoples R China.; Huang, R (reprint author), Japan Fine Ceram Ctr, Nanostruct Res Lab, Nagoya, Aichi 4568587, Japan.; Huang, R; Duan, CG (reprint author), Shanxi Univ, Collaborat Innovat Ctr Extreme Opt, Taiyuan 030006, Shanxi, Peoples R China.
来源:AIP ADVANCES
出版年:2016
卷:6
期:1
摘要:Aberration corrected scanning transmission electron microscopy is used to directly observe atom columns in an epitaxial BaTiO3 thin film deposited on 更多
收录类别:SCOPUS;SCIE;EI
当年影响因子:1.568
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JCR分区:Q3
资源类型:外文期刊论文
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