标题:Bayesian analysis of two-phase degradation data based on change-point Wiener process
作者:Wang, PP[1];Tang, YC[1];Bae, SJ[2];He, Y[3]
作者全称:Wang, Pingping[1];Tang, Yincai[1];Bae, Suk Joo[2];He, Yong[3]
通讯作者地址:Tang, YC (reprint author), East China Normal Univ, Sch Stat, Shanghai 200241, Peoples R China.
出版年:2018
卷:170
页码:244-256
关键词:Change-point; Degradation test; Hierarchical Bayesian; Wiener process
摘要:In degradation test of some products such as plasma display panels (PDPs) and organic light emitting diodes (OLEDs), observed degradation paths tend t 更多
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JCR分区:Q1
资源类型:外文期刊论文
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