标题:Simultaneous atomic-level visualization and high precision photocurrent measurements on photoelectric devices by in situ TEM
作者:Dong, H[1];Xu, T[1];Sun, ZQ[2];Zhang, QB[1];Wu, X[4];He, LB[1];Xu, F[1];Sun, LT[1,3]
作者全称:Dong, Hui[1];Xu, Tao[1];Sun, Ziqi[2];Zhang, Qiubo[1];Wu, Xing[4];He, Longbing[1];Xu, Feng[1];Sun, Litao[1,3]
通讯作者:Xu, Feng(fxu@seu.edu.cn)
通讯作者地址:Xu, F; Sun, LT (reprint author), Southeast Univ, Minist Educ, SEU FEI Nanopico Ctr, Key Lab MEMS, Nanjing 210096, Jiangsu, Peoples R China.; Sun, LT (reprint author), Southeast Univ Monash Univ Joint Res Inst, Suzhou 215123, Peoples R China.
来源:RSC ADVANCES
出版年:2018
卷:8
期:2
页码:948-953
摘要:Herein, a novel in situ transmission electron microscopy (TEM) method that allows high-resolution imaging and spectroscopy of nanomaterials under simu 更多
收录类别:SCIE;EI;SCOPUS
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JCR分区:Q2
资源类型:外文期刊论文
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