专利名称:一种紫外低透过率测量用衰减片
专利说明:本实用新型公开了一种紫外低透过率测量用衰减片,其具有玻璃基片(4)、以及依次沉积在所述玻璃基片(4)表面的第一薄膜层(1)、第二薄膜层(2)和第三薄膜层(3),所述第 更多
公开号:CN205941957U
公开日期:2017-02-08
申请人:华东师范大学
发明人:胡啸[1];孙圣[2];陈晓红[3];赵振杰[4];王春梅[5];沈国土[6]
主分类号:G02B5/00;G01N21/59
版权说明
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内容类型:
版本类型: 出版稿
开放类型: 开放获取
使用许可: CC BY-NC-SA
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