专利名称:基于版图变化改变互连延迟参数的集成电路分析方法
专利说明:本发明公开了一种基于版图变化改变互连延迟参数的集成电路分析方法,将同一个集成电路分别设计成多个不同布局的版图文件,根据集成电路的制造工艺文件提取集成电 更多
公开号:CN102508974A
公开日期:2012-06-20
申请人:华东师范大学;上海集成电路研发中心有限公司
发明人:石艳玲[1];李曦[2];周卉[3];张孟迪[4];任铮[5];胡少坚[6];陈寿面[7]
主分类号:G06F17/50
版权说明
文件名称:
文件大小: 0
内容类型:
版本类型: 出版稿
开放类型: 开放获取
使用许可: CC BY-NC-SA
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