标题:Raman mapping investigation of chemical vapor deposition-fabricated twisted bilayer graphene with irregular grains
作者:Chen, YM[1]; Meng, LJ[1]; Zhao, WW[2]; Liang, Z[3]; Wu, X[4]; Nan, HY[1]; Wu, ZT[1]; Huang, S[5] 更多
作者全称:Chen, Yuming[1]; Meng, Lijuan[1]; Zhao, Weiwei[2]; Liang, Zheng[3]; Wu, Xing[4]; Nan, Haiyan[1]; Wu, Zhangting[1]; Huang, Shan[5] 更多
通讯作者地址:Wang, JL (reprint author), Southeast Univ, Dept Phys, Nanjing 211189, Jiangsu, Peoples R China.
出版年:2014
卷:16
期:39
页码:21682-21687
摘要:Bilayer graphene as a prototype of two-dimensional stacked material has recently attracted great attention. The twist angle between graphene layers ad 更多
收录类别:SCIE
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当年影响因子:4.123
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JCR分区:Q1
资源类型:外文期刊论文
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