标题:The impact of electrical contacts and contact-induced ultralow noise amplitudes in layered transistors
作者:Hsu, CK[1];Lin, CY[2];Li, WW[3];Sun, HB[4];Xu, Y[4];Hu, ZG[3];Chang, YM[1];Suen, YW[1,5]
作者全称:Hsu, Chih-Kai[1];Lin, Chi-Yi[2];Li, Wenwu[3];Sun, Huabin[4];Xu, Yong[4];Hu, Zhigao[3];Chang, Yuan-Ming[1];Suen, Yuen-Wuu[1,5]
通讯作者地址:Li, WW (reprint author), East China Normal Univ, Dept Elect Engn, Minist Educ, Key Lab Polar Mat & Devices, Shanghai 200241, Peoples R China.
来源:2D MATERIALS
出版年:2016
卷:3
期:4
关键词:Electrical contacts; Layered electronics; Low-frequency noise; Noise amplitude; PbSnS2
摘要:Electrical contacts made of conducting channels with external circuitry significantly impact electronic performances, in particular for two-dimensiona 更多
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