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1. 纳米粉体材料紫外屏蔽性能评估方法 专利

申请人:华东师范大学

发明人:金利通;陈俊水;张继东;刘梅川

公开时间:2003-07-23

公开号:CN1431481

最新法律状态:失效专利

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